製品画像を用いた外観検査において背景ノイズが欠陥検出率に及ぼす影響

著者	井出速斗・松延拓生（和歌山大学）
発表者	井出速斗
概要	製品を撮影し加工した画像を用いる外観検査において，画像の背景ノイズ変化による欠陥検出率への影響を明らかにする。また、背景ノイズに加え欠陥サイズや欠陥と背景の輝度コントラストについても評価し、人とAIの特性を比較する。